Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска
Библиотечная БД
Имидж-каталог
Учебно-методические пособия
Выпускные квалификационные работы
Учебно-методоческие издания
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=УБИС<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1. 621.382.8
К 78

   Красников, Г. Я.
    Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС [Text] : [монография] / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев. - М. : Микрон-Принт, 1999 - .
   Ч. 1. - 216 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-93497-001-1 (в пер.) : 40-00 р.
УДК
621.382.8
621.382.8.049.77.002:658.562
621.382.8.049.77.002:53/54
621.382.8.049.771
Рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ
Кл.слова (ненормированные):
интегральные микросхемы -- СБИС -- УБИС -- качество интегральных микросхем -- кремниевые микросхемы -- электронно-ионные процессы -- системы Si2-SiO2 (ИМС) -- геттерирование (электротехника) -- кремниевые пластины -- стабилизация электрофизических свойств -- осаждение полевых электродов -- алюминиевая металлизация -- пленки алюминиевые -- пленки диоксида кремния


Доп.точки доступа:
Зайцев, Н. А.
Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)