Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска
Библиотечная БД
Имидж-каталог
Учебно-методические пособия
Выпускные квалификационные работы
Учебно-методоческие издания
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=ионная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1. 537.5
М 60

    Миллер, М.
    Зондовый анализ в автоионной микроскопии [Text] : принципы и приложения в материаловедении / М. Миллер, Г. Смит ; пер. с англ., под ред. А. Л. Суворова. - М. : Мир, 1993. - 301 с. : ил. - Библиогр.: с. 7-9, 281-293. - Предм.-имен. указ.: с. 294-298. - ISBN 5-03-0025-07- 3. - ISBN 0-931837-99-5 : 600.00 р.
УДК
537.5
Рубрики: ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Кл.слова (ненормированные):
микроскопия (электричество) -- ионная микроскопия -- атомные зонды


Доп.точки доступа:
Смит, Г.; Суворов, А. Л. \пер., ред.\
Экземпляры всего: 1
ОХиИФ (1)
Свободны: ОХиИФ (1)
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)