Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Учебно-методические пособия (3)Выпускные квалификационные работы (6)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=надежность<.>)
Общее количество найденных документов : 157
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1. 629.76
Т 38


   
    Технические основы эффективности ракетных систем [Text] : монография / Волков, Е. Б. [et al.]. - Москва : Машиностроение, 1989. - 256 с. : ил. - Библиогр.: с. 251-254. - ISBN 5-217-00524-6 (в пер.) : 6-60 р.
УДК
Рубрики: ВОЕННОЕ ДЕЛО--ВООРУЖЕНИЕ И ТЕХНИКА РАКЕТНЫХ ВОЙСК
Кл.слова (ненормированные):
ракетные системы -- противоракетная оборона -- надежность -- баллистические ракеты -- ядерное вооружение -- история -- вооружение -- системы управления -- стратегические ракеты


Доп.точки доступа:
Волков, Е. Б.; Дворкин, В. З.; Прокудин, А. И.; Шишкин, Ю. Н.
Экземпляры всего: 1
ОХиИФ (1)
Свободны: ОХиИФ (1)
Найти похожие

2.    004
   Г 16


    Галушкин, А. И.
    Нейронные сети : основы теории / А. И. Галушкин. - Москва : Горячая линия - Телеком, 2012. - 496 с. : ил., табл., схемы. - Библиогр.: с. 469-488. - ISBN 978-5-9912-0082-0 : 352.40 р.
ГРНТИ
УДК
Рубрики: НЕЙРОННЫЕ СЕТИ
Кл.слова (ненормированные):
нейронные сети -- структура сетей -- оптимальные модели -- адаптивные нейронные сети -- надежность сетей -- диагностика сетей

Экземпляры всего: 2
ОХиИФ (1), ООЛ (1)
Свободны: ОХиИФ (1), ООЛ (1)
Найти похожие

3. 621.382
Ш 65


    Шифрин-Крыжаловский, Ю. А.
    Тепловая устойчивость транзисторов и надежность радиоэлектронной аппаратуры [Текст] / Ю. А. Шифрин-Крыжаловский, В. С. Митин . - Москва : Сов. радио, 1966. - 255 с. - Б. ц.
УДК
Рубрики: Электроника. Радиотехника
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые триоды


Доп.точки доступа:
Митин, В. С.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Свободны: ОХФ (1)
Найти похожие

4. 621.382.3
Н 59


    Нечаев, А. М.
    Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов [Text] : реферативный аналитический обзор / А. М. Нечаев, Е. А. Рубаха, В. Ф. Синкевич. - Москва : ЦНИИ "Электроника", 1978. - 80 с. : ил. - (Серия 2. Полупроводниковые приборы ; вып. 10/577). - Б. ц.
УДК
Рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--ТВЕРДОТЕЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ--НАДЕЖНОСТЬ РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ И ЕЕ ЭЛЕМЕНТОВ
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые триоды -- надежность


Доп.точки доступа:
Рубаха, Е. А.; Синкевич, В. Ф.
Экземпляры всего: 1
ОХиИФ (1)
Свободны: ОХиИФ (1)
Найти похожие

5. 621.382.3
П 27


    Переведенцев, А. В.
    Механизмы основных видов отказов МДП-транзисторов [Text] : обзор / А. В. Переведенцев, М. Г. Картамышев. - Москва : ЦНИИ "Электроника", 1974. - 23 с. - (Полупроводниковые приборы ; вып. 13/242). - Б. ц.
УДК
Рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--ТВЕРДОТЕЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ--НАДЕЖНОСТЬ РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ И ЕЕ ЭЛЕМЕНТОВ
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые триоды


Доп.точки доступа:
Картамышев, М. Г.
Экземпляры всего: 1
ОХиИФ (1)
Свободны: ОХиИФ (1)
Найти похожие

6. 658.62
С 89


    Субетто, А.И.
    Методы динамической оценки технического уровня техники и технологии [Text] / Субетто, А.И., Андрианов, Ю.М. - Л. : ЛДНТП, 1990. - 25 с. : ил. - (Управление качеством продукции, стандартизация, метрология, надежность, техн. эстетика). - Библиогр.:с.25-26(15 назв.). - ISBN 5-7320-0221-9 : 00-23
УДК
Рубрики: ЭКОНОМИКА.ЭКОНОМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ЭКОНОМИКА И ОРГАНИЗАЦИЯ ПРЕДПРИЯТИЯ.УПРАВЛЕНИЕ ПРЕДПРИЯТИЕМ
Кл.слова (ненормированные):
Промышленные предприятия


Доп.точки доступа:
Андрианов, Ю.М.
Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
Найти похожие

7. 658.382
Н 17


   
    Надежность производственного оборудования и безопасность труда [Text] : обзор. информ. - [S. l.] : Б.и., 1987. - 52 с. : ил. - (Охрана труда ; вып.4). - ISBN . : 00-60
УДК
Рубрики: ОХРАНА ТРУДА--ТЕХНИКА БЕЗОПАСНОСТИ
Кл.слова (ненормированные):
техника безопасности

Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
Найти похожие

8. 658.51.03
Н 17


   
    Надежность и эффективность АСУ [Text] / Заренин, Ю.Г., Збырко, М.Д., Креденцер, Б.П. - Киев : Технiка, 1975. - 368 с. : граф. - Библиогр.: с. 356-366 (201 назв.). - ISBN (В пер.) : 01-13 р.
УДК
Рубрики: АВТОМАТИКА И ТЕЛЕМЕХАНИКА.ВЫЧИСЛИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА--АВТОМАТИЗИРОВАННЫЕ СИСТЕМЫ ОРГАНИЗАЦИОННОГО УПРАВЛЕНИЯ
Кл.слова (ненормированные):
АСУ


Доп.точки доступа:
Заренин, Ю.Г.; Збырко, М.Д.; Креденцер, Б.П.
Экземпляры всего: 3
КХ (3)
Свободны: КХ (3)
Найти похожие

9. 658.512
М 29


    Мартынов, Г.К.
    Надежность технологических процессов [Текст] : по данным отеч. и зарубеж. печати за 1958-1978 гг.: Обзоры по электронной технике / Мартынов, Г.К., Печенкин, А.Н. - М. : ЦНИИ "Электроника", 1979. - 87 с. - (Упр. качеством, метрология, стандартизация ; ¦3/656). - ISBN . : Б. ц.
УДК
Рубрики: ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА--ОБЩАЯ ТЕХНОЛОГИЯ ПРОИЗВОДСТВА
Кл.слова (ненормированные):
Техническая подготовка производства


Доп.точки доступа:
Печенкин, А.Н.
Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
Найти похожие

10. 658.512
П 43


    Погодин, Б.А.
    ЕСТД. Правила оформления технологических документов на процессы [Text] : опыт ВПТИэлектро / Погодин, Б.А. - Л. : ЛДНТП, 1976. - 26 с. - (Улучшение качества промышленной продукции (стандартизация, надежность, защита покрытия, техн. эстетика)). - ISBN . : 00-15
УДК
Рубрики: ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА--ПРОЕКТНО-КОНСТРУКТОРСКАЯ ДОКУМЕНТАЦИЯ
Кл.слова (ненормированные):
Техническая документация

Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)