Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=оптическая микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1. 620.2
Б 87


    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Text] : учеб. пособие : пер. с англ. / Брандон, Д., Каплан, У. ; ред.: Баженов, С. Л., Егорова, О. В. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-02). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 : 168-48 р.
УДК
Рубрики: МЕТАЛЛУРГИЯ--СТРУКТУРА И СВОЙСТВА СТАЛИ,СПЛАВОВ И КОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВЕ ЖЕЛЕЗА
   ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДЫХ ТЕЛ

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- нанотехнологии -- конструкционные материалы -- малоуглеродистая сталь -- окись алюминия -- тонкие пленки -- микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллические решетки -- наноструктуры -- исследование структуры материалов -- микроанализ -- микроскопия -- электронная микроскопия -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- химический анализ поверхности -- микроанализ химического состава -- морфология материала -- дифракционный анализ


Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, С. Л. \ред.\; Егорова, О. В. \ред.\
Экземпляры всего: 14
ЧЗ¦1 (1), ООНЛ (3), ООУЛ (10)
Свободны: ЧЗ¦1 (1), ООНЛ (3), ООУЛ (10)
Найти похожие

2. 620.2
Б 87


    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Text] : учеб. пособие : пер. с англ. / Брандон, Д., Каплан, У. ; ред.: Баженов, С. Л., Егорова, О. В. - М. : Техносфера, 2004. - 377 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-02). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 : 168-48 р.
УДК
Рубрики: МЕТАЛЛУРГИЯ--СТРУКТУРА И СВОЙСТВА СТАЛИ,СПЛАВОВ И КОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВЕ ЖЕЛЕЗА
   ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДЫХ ТЕЛ

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- нанотехнологии -- конструкционные материалы -- малоуглеродистая сталь -- окись алюминия -- тонкие пленки -- микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллические решетки -- наноструктуры -- исследование структуры материалов -- микроанализ -- микроскопия -- электронная микроскопия -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- химический анализ поверхности -- микроанализ химического состава -- морфология материала -- дифракционный анализ


Доп.точки доступа:
Каплан, У.; Баженов, С. Л. \ред.\; Егорова, О. В. \ред.\
Экземпляры всего: 6
КХ (1), УчАб (5)
Свободны: КХ (1), УчАб (5)
Найти похожие

3. 621.382.8
Н 25


   
    Наноматериалы. Нанотехнологии. Наносистемная техника [Text] : мировые достижения за 2005 г. / ред. Мальцев, П. П. - М. : Техносфера, 2006. - 149 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI-10). - ISBN 5-94836-085-7 (в пер.) : 133-99 р.
УДК
Рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--ПРИБОРЫ ФУНКЦИОНАЛЬНОЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ--ТВЕРДОТЕЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ
   БИОТЕХНОЛОГИЯ--МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И МОДЕЛИРОВАНИЯ.МАТЕМАТИЧЕСКИЕ И КИБЕРНЕТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- наноматериалы -- графеновая пленка -- нанотрубки углеродные -- наноэлектроника -- графеновые транзисторы -- наноносители -- flash-память -- нанощетки -- наноткань -- диагностика наноструктур -- оптическая микроскопия -- нанобиотехнологии -- нанозонды -- наночастицы


Доп.точки доступа:
Мальцев, П. П. \ред.\
Экземпляры всего: 20
КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (3), УчАб (15)
Свободны: КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (3), УчАб (15)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)