Библиотечная система ФГБОУ ВО 'ИжГТУ имени М.Т.Калашникова'

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

Библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Библиотечная БД

Имидж-каталог

Учебно-методические пособия

Выпускные квалификационные работы

Учебно-методоческие издания

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=оптические методы исследования материалов<.>)

Общее количество найденных документов : 1

620.2
К 47

Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов [Text] / Кларк, Э. Р., Эберхардт, К. Н. ; пер. Баженов, С. Л. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-13). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-1 21-5 (в пер.). - ISBN 1-85573-587-3 : 168-00 р.

УДК

Рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--КВАНТОВАЯ ЭЛЕКТРОНИКА
ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроскопы оптические -- микроскопы отраженного света -- конфокальная растровая -- лазерная микроскопия -- волокнистый композит -- стеклопластик -- углепластики -- композиты -- электромагнитные методы исследования материалов -- оптические методы исследования материалов -- раманскопы -- термография -- томография -- рентгеновская микроскопия -- компьютерная оптическая микроскопия -- ядерный магнитный резонанс

Доп.точки доступа:
Эберхардт, К. Н.; Баженов, С. Л. \пер.\
Экземпляры всего: 2
ОХФ (1), ООНЛ (1)
Свободны: ОХФ (1), ООНЛ (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)