Библиотечная система ФГБОУ ВО 'ИжГТУ имени М.Т.Калашникова'

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

Библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Библиотечная БД

Имидж-каталог

Учебно-методические пособия

Выпускные квалификационные работы

Учебно-методоческие издания

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

   539.2
   С 89

    Суздалев, И. П.
    Нанотехнология [Текст] : физико-химия нанокластеров, наноструктур и наноматериалов / И. П. Суздалев ; [редкол. Г. Г. Малинецкий (пред.) и др.]. - Изд. 2-е, испр. - Москва : Либроком, 2009. - 589 с. : ил. - (Синергетика: от прошлого к будущему ). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-397-002 17-2 (в пер.) : 700.00 р.

УДК

539.2

541.1

620.2

Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДЫХ ТЕЛ
   ХИМИЯ--ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ
   ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
   ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--ТВЕРДОТЕЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ
Кл.слова (ненормированные):
нанокластеры -- наноструктуры -- наноматериалы -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия -- спектроскопия -- углеродные материалы -- фуллерены -- кластеры -- углеродные кластеры -- углеродные нанотрубки -- физика твердого тела -- химия твердого тела -- физическая химия

Экземпляры всего: 9
ОХиИФ (1), ООЛ (8)
Свободны: ОХиИФ (1), ООЛ (8)
Найти похожие

621.002
У-13

Уайтхауз, Д.
Метрология поверхностей [Text] : принципы, промышленные методы и приборы : [учеб.-справ. рук.] / Уайтхауз, Д. ; пер.: Григорьев, А. Я., Ткачук, Д. В. ; ред. Мышкин, Н. К. - Долгопрудный : Издат. Дом "Интеллект", 2009. - 471 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 469-471. - ISBN 978-5-91559-023-5 (в пер.). - ISBN 1 9039 9660 0 : 887.30 р.

УДК

Рубрики: МАШИНОСТРОЕНИЕ--ИЗМЕРЕНИЯ,ИСПЫТАНИЯ,КОНТРОЛЬ И УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ--ТЕХНОЛОГИЯ МАШИНОСТРОЕНИЯ
ПРИБОРОСТРОЕНИЕ--ПРИБОРЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК
Кл.слова (ненормированные):
метрология поверхностей -- обработка поверхностей -- технология обработки -- шероховатость поверхностей -- оценка качества -- измерения -- щуповые приборы -- оптические методы -- сканирующая микроскопия -- погрешности -- некруглость -- нецилиндричность -- измерительные приборы -- калибровка приборов -- численные методы анализа

Доп.точки доступа:
Григорьев, А. Я. \пер.\; Ткачук, Д. В. \пер.\; Мышкин, Н. К. \ред.\
Экземпляры всего: 5
ОХиИФ (1), ООЛ (3), ЧЗ№1 (1)
Свободны: ОХиИФ (1), ООЛ (3), ЧЗ№1 (1)
Найти похожие

   539.2
   С 89

    Суздалев, И. П.
    Нанотехнология [Текст] : физико-химия нанокластеров, наноструктур и наноматериалов / И. П. Суздалев ; [редкол.: Г. Г. Малинецкий (пред.) и др.]. - Москва : Книжный дом "Либроком", 2013. - 589, [3] с. : ил. - (Синергетика : от прошлого к будущему №25 ). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-397-03389-3 (в пер.) : 438.30 р.

УДК

539.2

541.1

620.2

Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДЫХ ТЕЛ
   ХИМИЯ--ФИЗИЧЕСКАЯ ХИМИЯ
   ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
   ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--ТВЕРДОТЕЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ
Кл.слова (ненормированные):
нанокластеры -- наноструктуры -- наноматериалы -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия -- спектроскопия -- углеродные материалы -- фуллерены -- кластеры -- углеродные кластеры -- углеродные нанотрубки -- физика твердого тела -- химия твердого тела -- физическая химия

Экземпляры всего: 2
ОХиИФ (1), ООЛ (1)
Свободны: ОХиИФ (1), ООЛ (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)