Библиотечная система ФГБОУ ВО 'ИжГТУ имени М.Т.Калашникова'

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

Библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Библиотечная БД

Имидж-каталог

Учебно-методические пособия

Выпускные квалификационные работы

Учебно-методоческие издания

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>S=ФИЗИКА -- ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

537.5
М 60

Миллер, М.
Зондовый анализ в автоионной микроскопии [Text] : принципы и приложения в материаловедении / М. Миллер, Г. Смит ; пер. с англ., под ред. А. Л. Суворова. - М. : Мир, 1993. - 301 с. : ил. - Библиогр.: с. 7-9, 281-293. - Предм.-имен. указ.: с. 294-298. - ISBN 5-03-0025-07- 3. - ISBN 0-931837-99-5 : 600.00 р.

УДК

537.5

Рубрики: ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Кл.слова (ненормированные):
микроскопия (электричество) -- ионная микроскопия -- атомные зонды

Доп.точки доступа:
Смит, Г.; Суворов, А. Л. \пер., ред.\
Экземпляры всего: 1
ОХиИФ (1)
Свободны: ОХиИФ (1)
Найти похожие

621.38
Н 40

Неволин, В. К.
Зондовые нанотехнологии в электронике [Text] / Неволин, В. К. - М. : Техносфера, 2005. - 147 с. : ил. - (Мир электроники ; VII, 11). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-054-7 (в пер.) : 190-00 р.

УДК

621.38

621.382.8

621.385.8

Рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ,МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Кл.слова (ненормированные):
наноэлектроника -- микроэлектроника -- микроскопы зондовые -- нанотехнологии -- зондовые нанотехнологии -- нанотранзисторы -- углеродная наноэлектроника -- подложки полупроводниковые

Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
Найти похожие

621.38
К 55

Кобаяси, Н.
Введение в нанотехнологию [Text] / Кобаяси, Н. ; пер. Хачоян, А. В. ; ред. Патрикеев, Л. Н. - М. : Бином. Лаборатория знаний, 2007. - 134 с. : ил., табл. - ISBN 5-94774-218-7 (в пер.). - ISBN 4-492-09151-3 : 100-00 р.
Перевод заглавия: Nano Technology

УДК

621.38

621.385.8

681.3.05

Рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ,МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ
ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- нанотехнологические исследования -- история нанотехнологии -- микроэлектроника -- микроскопы электронные -- сканирующие электронные микроскопы -- фотообработка -- нанотрубки углеродные -- квантовые компьютеры -- наноустройства -- наностекла -- датчики биологические -- термины информационные -- наноматериалы -- зарубежный опыт

Доп.точки доступа:
Хачоян, А. В. \пер.\; Патрикеев, Л. Н. \ред.\
Экземпляры всего: 4
КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (2)
Свободны: КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (2)
Найти похожие

620.2
К 47

Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов [Text] / Кларк, Э. Р., Эберхардт, К. Н. ; пер. Баженов, С. Л. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-13). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-1 21-5 (в пер.). - ISBN 1-85573-587-3 : 168-00 р.

УДК

Рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--КВАНТОВАЯ ЭЛЕКТРОНИКА
ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроскопы оптические -- микроскопы отраженного света -- конфокальная растровая -- лазерная микроскопия -- волокнистый композит -- стеклопластик -- углепластики -- композиты -- электромагнитные методы исследования материалов -- оптические методы исследования материалов -- раманскопы -- термография -- томография -- рентгеновская микроскопия -- компьютерная оптическая микроскопия -- ядерный магнитный резонанс

Доп.точки доступа:
Эберхардт, К. Н.; Баженов, С. Л. \пер.\
Экземпляры всего: 2
ОХФ (1), ООНЛ (1)
Свободны: ОХФ (1), ООНЛ (1)
Найти похожие

537(075)
К 75

Кочаков, В. Д.
Основы сканирующей туннельной наноскопии [Text] : учебное пособие для вузов / Кочаков, В. Д., Ярусов, Е. А. - Чебоксары : Изд-во Чуваш. ун-та, 2009. - 68 с. : ил. - Библиогр.: с. 66-67. - ISBN 978-5-7677-13 85-1 : 250-00 р.

УДК

537(075)

537.5(075)

Рубрики: ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- наноскопия -- зондовые микроскопы -- FEMTOSCAN -- сканирующая туннельная микроскопия

Доп.точки доступа:
Ярусов, Е. А.
Экземпляры всего: 1
ОХиИФ (1)
Свободны: ОХиИФ (1)
Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)