Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Библиотечная БД - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=537.5<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1. 537.5
М 60


    Миллер, М.
    Зондовый анализ в автоионной микроскопии [Text] : принципы и приложения в материаловедении / М. Миллер, Г. Смит ; пер. с англ., под ред. А. Л. Суворова. - М. : Мир, 1993. - 301 с. : ил. - Библиогр.: с. 7-9, 281-293. - Предм.-имен. указ.: с. 294-298. - ISBN 5-03-0025-07- 3. - ISBN 0-931837-99-5 : 600.00 р.
УДК
Рубрики: ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Кл.слова (ненормированные):
микроскопия (электричество) -- ионная микроскопия -- атомные зонды


Доп.точки доступа:
Смит, Г.; Суворов, А. Л. \пер., ред.\
Экземпляры всего: 1
ОХиИФ (1)
Свободны: ОХиИФ (1)
Найти похожие

2. 537.5
Т 56


    Томас, Г.
    Просвечивающая электронная микроскопия материалов [Text] : пер. с англ. / Томас, Г., Гориндж, М.Дж. ; ред. Вайнштейн, Б.К. - М. : Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1983. - 317 с. : ил. - Библиогр.:с.310-317. - ISBN . : 3000-00 р.
УДК
Рубрики: ФИЗИКА--РАДИОФИЗИКА.ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЭЛЕКТРОНИКИ
Кл.слова (ненормированные):
Электронная микроскопия материалов -- Микроскопы электронные -- Материалы-Электронная микроскопия


Доп.точки доступа:
Гориндж, М.Дж.; Вайнштейн, Б.К. \ред.\
Экземпляры всего: 1
КХ (1)
Свободны: КХ (1)
Найти похожие

3. 537.5
П 84


   
    Процессы формирования скользящего разряда на диэлектрических подложках с потенциальным барьером [Text] / Шорин, В. П. [et al.]. - М. : Логос, 2000. - 152 p. : ил. - Библиогр.: с. 141-151. - ISBN 5-88439-127-7 (в пер.) : 80-00 р.
УДК
Рубрики: ФИЗИКА--ДИЭЛЕКТРИКИ
Кл.слова (ненормированные):
разряды скользящие -- подложки диэлектрические -- электроды -- диэлектрики -- камеры лазеров


Доп.точки доступа:
Шорин, В. П.; Журавлев, О. А.; Федосов, А.И.; Марков, В.П.
Экземпляры всего: 10
ОХиИФ (1), ООЛ (9)
Свободны: ОХиИФ (1), ООЛ (9)
Найти похожие

4. 537.5
Ф 50


   
    Физика и технология источников ионов [Text] / Браун Я. [и др.] ; под ред. Я. Брауна ; пер. с англ. под ред. Машковой Е. С. - М. : Мир, 1998. - 496 с. : ил., схемы, табл. - Библиогр. в предисл. - Библиогр.: с. 465-488. - ISBN 5-03-002596-0 (рус.) (в пер.). - ISBN 0-471-85708-4 (англ.) : 40.00 р.
УДК
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ПЛАЗМЫ--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ ЭМИССИЯ
Кл.слова (ненормированные):
ионные источники -- источники ионов -- физика плазмы -- ускорители частиц (электроника) -- извлечение ионов -- транспортировка ионных пучков -- численное моделирование -- ионы -- компьютерные программы для моделирования -- фримановские ионные источники -- газовые ионные источники -- лазеры -- источники плазмы -- жидкометаллические ионные источники -- PIG-источники -- ЭЦР-источники -- СВЧ-источники


Доп.точки доступа:
Браун, Я.; Келлер, Р.; Холмс, А.; Шпедтке, П.; Гавин, Б.; Эйткен, Д.; Машкова, Е. С. \ред., пер.\
Экземпляры всего: 1
ОХиИФ (1)
Свободны: ОХиИФ (1)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)