533.9 Р 24 Распыление под действием бомбардировки частицами [Text] / Р. Бериш [et al.] ; ред. В.А. Молчанов. - М. : Мир, 1998 - . Вып. III : Характеристики распыленных частиц, применения в технике. - 552 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-03-003118-9 (рус.). - ISBN 3-540-53428-8 (англ.) : 30-00 р.
МЕХАНИКА--УСТОЙЧИВОСТЬ И СТАБИЛИЗАЦИЯ ДВИЖЕНИЯ Кл.слова (ненормированные): Распыление -- Напыление -- Плазма -- Бомбардировка ионная -- Микроанализ -- Покрытия -- Микроструктура твердого тела -- Биотехнология -- Ионизация -- Микротопография -- Микросрезы -- Микроэлектроника -- Магнетроны -- Спектрометрия -- Десорбция Доп.точки доступа: Бериш, Р.; Виттмак, К.; Легрейд, Н.; Мак-Кланахан, Э.; Сандквист, Б.; Хауффе, В.; Молчанов, В.А. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |
620.2 Б 87 Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Text] : учеб. пособие : пер. с англ. / Брандон, Д., Каплан, У. ; ред.: Баженов, С. Л., Егорова, О. В. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-02). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 : 168-48 р.
ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДЫХ ТЕЛ Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- нанотехнологии -- конструкционные материалы -- малоуглеродистая сталь -- окись алюминия -- тонкие пленки -- микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллические решетки -- наноструктуры -- исследование структуры материалов -- микроанализ -- микроскопия -- электронная микроскопия -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- химический анализ поверхности -- микроанализ химического состава -- морфология материала -- дифракционный анализ Доп.точки доступа: Каплан, У.; Баженов, С. Л. \ред.\; Егорова, О. В. \ред.\ Экземпляры всего: 14 ЧЗ¦1 (1), ООНЛ (3), ООУЛ (10) Свободны: ЧЗ¦1 (1), ООНЛ (3), ООУЛ (10) |
620.2 Б 87 Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Text] : учеб. пособие : пер. с англ. / Брандон, Д., Каплан, У. ; ред.: Баженов, С. Л., Егорова, О. В. - М. : Техносфера, 2004. - 377 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-02). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 : 168-48 р.
ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДЫХ ТЕЛ Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- нанотехнологии -- конструкционные материалы -- малоуглеродистая сталь -- окись алюминия -- тонкие пленки -- микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллические решетки -- наноструктуры -- исследование структуры материалов -- микроанализ -- микроскопия -- электронная микроскопия -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- химический анализ поверхности -- микроанализ химического состава -- морфология материала -- дифракционный анализ Доп.точки доступа: Каплан, У.; Баженов, С. Л. \ред.\; Егорова, О. В. \ред.\ Экземпляры всего: 6 КХ (1), УчАб (5) Свободны: КХ (1), УчАб (5) |
72 Н 72 Нобелевские лекции-100 лет. Химия [Text] : нобелевская премия / ред. И. В. Михура, ред. Д. Н. Трифонов. - М. : Физико-математическая литература, 2006 - . Т. II : 1921-1933. - 549 с. : ил., фото. - (Нобелевские лекции-100 лет). - ISBN 5-902758-11-4 (в пер.). - ISBN 5-902758-01-7 : 4510-00 р.
Рубрики: НАУКОВЕДЕНИЕ--НАУКА И НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКАЯ РАБОТА В ОТДЕЛЬНЫХ СТРАНАХ ХИМИЯ--ИСТОРИЯ ХИМИИ.ПЕРСОНАЛИЯ Кл.слова (ненормированные): история науки -- история химии -- Нобелевские лауреаты -- химики -- биографии ученых -- радиоактивные вещества -- изотопы -- масс-спектры -- микроанализ органических веществ -- коллоидная химия -- ультрацентрифуга -- желчные кислоты -- строение стеринов -- ферменты брожения -- синтез гемина -- высокое давление (химия) -- химические процессы -- химия поверхностных явлений Доп.точки доступа: Михура, И. В. \ред.\; Трифонов, Д. Н. \ред.\; Содди, Ф.; Астон, Ф. У.; Прегль, Ф.; Зигмонди, Р.; Сведберг, Т.; Виланд, Г.; Виндаус, А.; Гарден, А.; Эйлер-Хельпин, Х. фон; Фишер, Х.; Бош, К.; Бергиус, Ф.; Ленгмюр, И. Экземпляры всего: 1 НБО (1) Свободны: НБО (1) |