620.2 К 47
Кларк, Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов [Text] / Кларк, Э. Р., Эберхардт, К. Н. ; пер. Баженов, С. Л. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-13). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-1 21-5 (в пер.). - ISBN 1-85573-587-3 : 168-00 р. Рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--КВАНТОВАЯ ЭЛЕКТРОНИКА ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- микроскопы оптические -- микроскопы отраженного света -- конфокальная растровая -- лазерная микроскопия -- волокнистый композит -- стеклопластик -- углепластики -- композиты -- электромагнитные методы исследования материалов -- оптические методы исследования материалов -- раманскопы -- термография -- томография -- рентгеновская микроскопия -- компьютерная оптическая микроскопия -- ядерный магнитный резонанс
Доп.точки доступа: Эберхардт, К. Н.; Баженов, С. Л. \пер.\
Экземпляры всего: 2 ОХФ (1), ООНЛ (1) Свободны: ОХФ (1), ООНЛ (1)
|