620.2(03) С 74 Справочник Шпрингера по нанотехнологиям [Текст] : справочник : в 3-х т. / под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под ред. А. Н. Саурова ; ФГУ НПК "Технологический центр" Москов. гос. ин-та электронной техники. - Москва : Техносфера. - (Мир материалов и технологий ; VI-30). Т. II. - 2010. - 1039, [1] с. : ил., табл. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-261-8. - ISBN 978-5-94836-263-2 : 1760.00 р.
Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- наноматериалы -- наноструктуры -- зондовая микроскопия -- нанотрибология -- наномеханика -- наноэлектромеханические устройства -- нанореология -- биологическая нанотехнология Доп.точки доступа: Бхушан, Б. \ред.\; Сауров, А. Н. \пер., ред.\ Экземпляры всего: 2 ОХиИФ (1), ООЛ (1) Свободны: ОХиИФ (1), ООЛ (1) |
537.5 М 60 Миллер, М. Зондовый анализ в автоионной микроскопии [Text] : принципы и приложения в материаловедении / М. Миллер, Г. Смит ; пер. с англ., под ред. А. Л. Суворова. - М. : Мир, 1993. - 301 с. : ил. - Библиогр.: с. 7-9, 281-293. - Предм.-имен. указ.: с. 294-298. - ISBN 5-03-0025-07- 3. - ISBN 0-931837-99-5 : 600.00 р.
Кл.слова (ненормированные): микроскопия (электричество) -- ионная микроскопия -- атомные зонды Доп.точки доступа: Смит, Г.; Суворов, А. Л. \пер., ред.\ Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |
537.5 Т 56 Томас, Г. Просвечивающая электронная микроскопия материалов [Text] : пер. с англ. / Томас, Г., Гориндж, М.Дж. ; ред. Вайнштейн, Б.К. - М. : Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1983. - 317 с. : ил. - Библиогр.:с.310-317. - ISBN . : 3000-00 р.
Кл.слова (ненормированные): Электронная микроскопия материалов -- Микроскопы электронные -- Материалы-Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Гориндж, М.Дж.; Вайнштейн, Б.К. \ред.\ Экземпляры всего: 1 КХ (1) Свободны: КХ (1) |
621.315.5(075) Р 94 Рыков, С. А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Text] : учеб. пособие для вузов / Рыков, С. А. ; ред.: Ильин, В. И., Шик, А.Я. - СПб. : Наука, 2001. - 56 с. : ил. - (Новые разд.физики полупроводников). - Библиогр.: с.51. - ISBN 5-02-024956-4 : 30-00 р.
ЭЛЕКТРОТЕХНИКА--ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые материалы -- наноструктуры -- микроскопия -- спектроскопия -- туннелирование -- микроскопы -- физика полупроводников Доп.точки доступа: Ильин, В. И. \ред.\; Шик, А.Я. \ред.\ Экземпляры всего: 2 ОХиИФ (2) Свободны: ОХиИФ (2) |
621.38(075) Щ 94 Щука, А. А. Электроника [Text] : [учеб. пособие для вузов] / Щука, А. А. ; ред. Сигов, А. С. - СПб. : БХВ-Петербург, 2005. - 799 с. : ил., табл., портр. - (Учебное пособие). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с. 792-799. - ISBN 5-94157-461-4 (в пер.) : 340-00 р.
Кл.слова (ненормированные): электроника -- вакуумная электроника -- плазменная электроника -- электронные лампы -- электронно-лучевые приборы -- ионные приборы -- туннельная микроскопия -- микроэлектроника -- полупроводники -- интегральные микросхемы -- литография -- травление -- логические НС -- запоминающие устройства -- триггеры -- микропроцессоры -- наноэлектроника -- квантовая электроника -- оптическая электроника -- лазеры Доп.точки доступа: Сигов, А. С. \ред.\ Экземпляры всего: 1 КХ (1) Свободны: КХ (1) |
621.38(075) П П 88 Пул, Ч. (мл.) Нанотехнологии [Текст] : учеб. пособие для вузов / Пул, Ч. (мл.), Оуэнс, Ф. ; пер.: Головин, Ю. И., Лучинин, В. В. - 2-е, доп. изд. - М. : Техносфера, 2006. - 334 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI, 09). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-081-4 (в пер.). - ISBN 0-471-07935-9 : 238-00 р.
ФИЗИКА--ПОЛУПРОВОДНИКИ--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- физика твердого тела -- наноматериалы -- квазичастицы -- наночастицы -- полимеры -- биологические наноструктуры -- ферромагнитики наноуглеродные -- нанодиагностика -- микроскопия -- атомно-зондовая микроскопия -- спектроскопия -- кристаллография -- углерод -- нанотрубки углеродные -- фотоника Доп.точки доступа: Оуэнс, Ф.; Головин, Ю. И. \пер.\; Лучинин, В. В. \пер.\ Экземпляры всего: 1 Каф. Химия и хим. технологии (1) Свободны: Каф. Химия и хим. технологии (1) |
548.7(075) П С 32 Сергеев, Г. Б. Нанохимия [Text] : учеб. пособие для вузов / Сергеев, Г. Б. - М. : КДУ, 2006. - 333 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 307-333. - ISBN 5-98227-185-3 : 287-00 р.
Кл.слова (ненормированные): нанохимия -- наночастицы -- термодинамические особенности -- кластеры -- нанотехнологии -- микроскопия -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- рентгенография -- нанореакторы -- углерод -- нанотрубки углеродные -- нанофотоника Экземпляры всего: 1 Каф. Химия и хим. технологии (1) Свободны: Каф. Химия и хим. технологии (1) |
621.38 Н 40 Неволин, В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике [Text] / Неволин, В. К. - М. : Техносфера, 2005. - 147 с. : ил. - (Мир электроники ; VII, 11). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-054-7 (в пер.) : 190-00 р.
ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ Кл.слова (ненормированные): наноэлектроника -- микроэлектроника -- микроскопы зондовые -- нанотехнологии -- зондовые нанотехнологии -- нанотранзисторы -- углеродная наноэлектроника -- подложки полупроводниковые Экземпляры всего: 1 КХ (1) Свободны: КХ (1) |
621.38 К 55 Кобаяси, Н. Введение в нанотехнологию [Text] / Кобаяси, Н. ; пер. Хачоян, А. В. ; ред. Патрикеев, Л. Н. - М. : Бином. Лаборатория знаний, 2007. - 134 с. : ил., табл. - ISBN 5-94774-218-7 (в пер.). - ISBN 4-492-09151-3 : 100-00 р. Перевод заглавия: Nano Technology
ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- нанотехнологические исследования -- история нанотехнологии -- микроэлектроника -- микроскопы электронные -- сканирующие электронные микроскопы -- фотообработка -- нанотрубки углеродные -- квантовые компьютеры -- наноустройства -- наностекла -- датчики биологические -- термины информационные -- наноматериалы -- зарубежный опыт Доп.точки доступа: Хачоян, А. В. \пер.\; Патрикеев, Л. Н. \ред.\ Экземпляры всего: 4 КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (2) Свободны: КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (2) |
620.2 Б 87 Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Text] : учеб. пособие : пер. с англ. / Брандон, Д., Каплан, У. ; ред.: Баженов, С. Л., Егорова, О. В. - М. : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-02). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 : 168-48 р.
ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДЫХ ТЕЛ Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- нанотехнологии -- конструкционные материалы -- малоуглеродистая сталь -- окись алюминия -- тонкие пленки -- микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллические решетки -- наноструктуры -- исследование структуры материалов -- микроанализ -- микроскопия -- электронная микроскопия -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- химический анализ поверхности -- микроанализ химического состава -- морфология материала -- дифракционный анализ Доп.точки доступа: Каплан, У.; Баженов, С. Л. \ред.\; Егорова, О. В. \ред.\ Экземпляры всего: 14 ЧЗ¦1 (1), ООНЛ (3), ООУЛ (10) Свободны: ЧЗ¦1 (1), ООНЛ (3), ООУЛ (10) |
620.2 Б 87 Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Text] : учеб. пособие : пер. с англ. / Брандон, Д., Каплан, У. ; ред.: Баженов, С. Л., Егорова, О. В. - М. : Техносфера, 2004. - 377 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-02). - Библиогр. в конце гл. - Предм. указ.: с 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 : 168-48 р.
ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДЫХ ТЕЛ Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- нанотехнологии -- конструкционные материалы -- малоуглеродистая сталь -- окись алюминия -- тонкие пленки -- микроструктура материалов -- кристаллография -- кристаллические решетки -- наноструктуры -- исследование структуры материалов -- микроанализ -- микроскопия -- электронная микроскопия -- оптическая микроскопия -- интерференционная микроскопия -- химический анализ поверхности -- микроанализ химического состава -- морфология материала -- дифракционный анализ Доп.точки доступа: Каплан, У.; Баженов, С. Л. \ред.\; Егорова, О. В. \ред.\ Экземпляры всего: 6 КХ (1), УчАб (5) Свободны: КХ (1), УчАб (5) |
621.382.8 Н 25 Наноматериалы. Нанотехнологии. Наносистемная техника [Text] : мировые достижения за 2005 г. / ред. Мальцев, П. П. - М. : Техносфера, 2006. - 149 с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; VI-10). - ISBN 5-94836-085-7 (в пер.) : 133-99 р.
БИОТЕХНОЛОГИЯ--МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И МОДЕЛИРОВАНИЯ.МАТЕМАТИЧЕСКИЕ И КИБЕРНЕТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- наноматериалы -- графеновая пленка -- нанотрубки углеродные -- наноэлектроника -- графеновые транзисторы -- наноносители -- flash-память -- нанощетки -- наноткань -- диагностика наноструктур -- оптическая микроскопия -- нанобиотехнологии -- нанозонды -- наночастицы Доп.точки доступа: Мальцев, П. П. \ред.\ Экземпляры всего: 20 КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (3), УчАб (15) Свободны: КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (3), УчАб (15) |
621.38(075) П 88 Пул, Ч. (мл.) Нанотехнологии [Текст] : учеб. пособие для вузов / Пул, Ч. (мл.), Оуэнс, Ф. ; пер.: Головин, Ю. И., Лучинин, В. В. - 3-е, доп. изд. - М. : Техносфера, 2007. - 375 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-17). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-1 50-5 (в пер.). - ISBN 0-471-07935-9 : 168-48 р.
ФИЗИКА--ПОЛУПРОВОДНИКИ--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- физика твердого тела -- наноматериалы -- квазичастицы -- наночастицы -- полимеры -- биологические наноструктуры -- ферромагнитики наноуглеродные -- нанодиагностика -- микроскопия -- атомно-зондовая микроскопия -- спектроскопия -- кристаллография -- углерод -- нанотрубки углеродные -- фотоника Доп.точки доступа: Оуэнс, Ф.; Головин, Ю. И. \пер.\; Лучинин, В. В. \пер.\ Экземпляры всего: 20 ОХФ (2), ООУЛ (18) Свободны: ОХФ (2), ООУЛ (18) |
537.311.322 Г 37 Герасименко, Н. Н. Кремний-материал наноэлектроники [Text] : учеб. пособие для вузов / Герасименко, Н. Н., Пархоменко, Ю. Н. - М. : Техносфера, 2007. - 351 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-12). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 10: 5-94836-1 01-2 (в пер.). - ISBN 13: 978-5-948 36-101-7 : 151-23 р.
ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ ПРИБОРЫ Кл.слова (ненормированные): кремний -- наноэлектроника -- кремниевая наноэлектроника -- нанофотоника -- Si-Ge наноструктуры -- нанотрубки -- кремниевые трубки -- нанолитография -- наноэлектронные приборы -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- осаждение из газовой фазы -- ионный синтез -- зондовая микроскопия Доп.точки доступа: Пархоменко, Ю. Н. Экземпляры всего: 20 КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (3), УчАб (15) Свободны: КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (3), УчАб (15) |
621.382.8 Н 25 Нанотехнологии в электронике [Text] : [монография] / Боргардт Н. И. [и др.] ; под ред. Чаплыгина Ю. А. - М. : Техносфера, 2005. - 446 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-059-8 (в пер.) : 168-48 р. Авт. указ. на с. 444-446
ФИЗИКА--ПОЛУПРОВОДНИКИ Кл.слова (ненормированные): наноэлектроника -- нанотехнологии -- наноматериалы -- наносистемы -- наноструктуры -- полупроводниковые гетероструктуры -- полупроводники -- фуллерены -- углеситаллы -- нанотрубки углеродные -- исследования наноструктур материалов -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- нанолитография -- самоорганизующиеся наноразмерные структуры -- фотоника наноразмерных структур -- оптические волокна -- датчики магнитного поля -- биочипы -- электрокардиостимуляторы Доп.точки доступа: Боргардт, Н. И.; Гаврилов, С. А.; Герасименко, Н. Н.; Горбацевич, А. А.; Григорашвили, Ю. Е.; Чаплыгин, Ю. А. \ред.\ Экземпляры всего: 20 ОХиИФ (1), ЧЗ№1 (1), ООНЛ (3), ООУЛ (15) Свободны: ОХиИФ (1), ЧЗ№1 (1), ООНЛ (3), ООУЛ (15) |
539.2 В 24 Введение в физику поверхности [Текст] / Оура, К. [и др.] ; ред. Сергиенко, В. И. - М. : Наука, 2006. - 490 с. : ил. - Библиогр.: с. 464-481, в конце гл. - Предмет. указ.: с. 482-490. - ISBN 5-02-034355-2 (в пер.) : 100-00 р. Перевод заглавия: Surface Science an introduction
Кл.слова (ненормированные): поверхности -- физика поверхности -- пленки -- тонкие пленки -- кристаллография -- вакуумная техника -- сверхвысокий вакуум -- анализ поверхности -- дифракция -- спектроскопия -- ионное рассеяние -- микроскопия -- дефекты поверхностей -- адсорбция -- десорбция -- диффузия -- нанотрубки углеродные -- фуллерены Доп.точки доступа: Оура, К.; Лифшиц, В. Г.; Саранин, А. А.; Зотов, А. В.; Катаяма, М.; Сергиенко, В. И. \ред.\ Экземпляры всего: 2 КХ (1), НТА (1) Свободны: КХ (1), НТА (1) |
620.2 К 47 Кларк, Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов [Text] / Кларк, Э. Р., Эберхардт, К. Н. ; пер. Баженов, С. Л. - М. : Техносфера, 2007. - 371 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI-13). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-1 21-5 (в пер.). - ISBN 1-85573-587-3 : 168-00 р.
ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- микроскопы оптические -- микроскопы отраженного света -- конфокальная растровая -- лазерная микроскопия -- волокнистый композит -- стеклопластик -- углепластики -- композиты -- электромагнитные методы исследования материалов -- оптические методы исследования материалов -- раманскопы -- термография -- томография -- рентгеновская микроскопия -- компьютерная оптическая микроскопия -- ядерный магнитный резонанс Доп.точки доступа: Эберхардт, К. Н.; Баженов, С. Л. \пер.\ Экземпляры всего: 2 ОХФ (1), ООНЛ (1) Свободны: ОХФ (1), ООНЛ (1) |
548 Г 96 Гусев, А. И. Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии [Text] / Гусев, А. И. - Изд. 2-е, испр. - М. : Физматлит, 2009. - 414 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл. - Имен. указ.: с. 406-407. - Предм. указ.: с. 408-414. - ISBN 978-5-9221-05 82-8 (в пер.) : 500-00 р.
ФИЗИКА--МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ И ДИНАМИКИ РЕШЕТКИ Кл.слова (ненормированные): наноматериалы -- наноструктуры -- нанотехнологии -- нанокристаллические порошки -- дифракция -- наночастицы -- литография -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- микроскопия атомно-силовая Экземпляры всего: 10 ОХФ (1), ООНЛ (9) Свободны: ОХФ (1), ООНЛ (9) |
669 Е 41 Ежов, А. А. Разрушение металлов [Text] : [монография] / Ежов, А. А., Герасимова, Л. П. - М. : Наука, 2004. - 399 с. : ил., табл. - ISBN 5-02-006487-4 (в пер.) : 1540-00 р.
Кл.слова (ненормированные): разрушение металлов -- термодеформационное воздействие -- температурная микроскопия -- алюминиевые сплавы -- структура металлов -- никелевые сплавы -- пластическая деформация -- титановые сплавы -- конструкционные стали -- сварочные соединения Доп.точки доступа: Герасимова, Л. П. Экземпляры всего: 2 ОХФ (1), ООНЛ (1) Свободны: ОХФ (1), ООНЛ (1) |