530.14 К 59 Кокин, А. А. Твердотельные квантовые компьютеры на ядерных спинах [Text] / Кокин, А. А. - Москва ; Ижевск : Ин-т компьютер. исследований, 2004. - 203 с. : ил. - Библиогр. в конце частей. - Предм. указ.: с. 202-203. - ISBN 5-93972-319-5 : 50-00 р.
ФИЗИКА--КВАНТОВАЯ МЕХАНИКА Кл.слова (ненормированные): кванты -- квантовые компьютеры -- твердотельные квантовые компьютеры -- ядерный магнито-резонанс (ЯМР) -- ЯМР -- физические основы -- Блоха уравнения -- регистры квантовые -- динамические процессы -- Шора алгоритм факторизации -- квантовые вычисления Экземпляры всего: 7 КХ (1), НТА (6) Свободны: КХ (1), НТА (6) |
536 Р 89 Русяк, И. Г. Физические основы и газовая динамика горения порохов в артиллерийских системах [Текст] : монография / И. Г. Русяк, А. М. Липанов, В. М. Ушаков ; РАН, УО Рос. Акад. ракетных и артиллер. наук, М-во образования и науки РФ. - Москва ; Ижевск : Ин-т компьютерных исследований, 2016. - 455, [1] с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 442-455. - ISBN 978-5-4344-0239-2 (в пер.) : 1000.00 р. Есть автограф: Русяк, И. Г.
АРТИЛЛЕРИЙСКИЕ СИСТЕМЫ Кл.слова (ненормированные): артиллерийские системы -- горение порохов -- газовая динамика -- физические основы -- ИжГТУ Доп.точки доступа: Липанов, А. М.; Ушаков, В. М. Экземпляры всего: 5 ОХиИФ (3), ООЛ (2) Свободны: ОХиИФ (3), ООЛ (2) |
621-19(075) Е 87 Есюнин, Е. Г. Основы надежности машин [Text] : учеб. пособие / Есюнин, Е. Г., Новоселов, В. Г., Панычев, А. П. - Екатеринбург : Изд-во Урал. гос. лесотехн. ун-та, 2009. - 155 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 155. - ISBN 978-5-94984-2 47-8 (в пер.) : 480-00 р.
Кл.слова (ненормированные): теория надежности -- надежность машин -- физические основы -- детали машин -- технологические системы -- обеспечение надежности -- прогнозирование надежности Доп.точки доступа: Новоселов, В. Г.; Панычев, А. П. Экземпляры всего: 2 ОХФ (1), ЧЗ¦4 (1) Свободны: ОХФ (1), ЧЗ¦4 (1) |
530(075) О-28 Общая физика. Молекулярная физика. Термодинамика [Text] : тест. задания с решен. и метод. указ. / Барсегов, Д. Г. [et al.]. - М. : АСТ : Астрель, 2010. - 189 с. : ил., табл. - (Готовимся к сессии). - Библиогр.: с. 191. - ISBN 978-5-17-0689 61-3 (в пер.). - ISBN 978-5-271-295 89-8 : 163-00 р.
Кл.слова (ненормированные): молекулярно-кинетическая теория -- физические основы -- термодинамика -- конденсированные среды -- тестовые задания Доп.точки доступа: Барсегов, Д. Г.; Греков, А. А.; Касаткина, И. Л.; Мастропас, З. П. Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |
621.9(075) К 88 Кугультинов, С. Д. Обработка резанием металлов, применяемых в ракетостроении [Текст] : учебное пособие для вузов / С. Д. Кугультинов, А. К. Ковальчук, И. И. Портнов. - Москва : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2008. - 192, [4] с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 190-191. - ISBN 978-5-7038-3207-3 : 320.00 ; 150.00 р. Допущено УМО вузов Есть автограф: Кугультинов, С. Д.
ОБЩИЕ И КОМПЛЕКСНЫЕ ПРОБЛЕМЫ ТЕХНИЧЕСКИХ И ПРИКЛАДНЫХ НАУК И ОТРАСЛЕЙ НАРОДНОГО ХОЗЯЙСТВА--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ--УЧЕБНИКИ И ПОСОБИЯ Кл.слова (ненормированные): теория резания -- обработка резанием -- процессы резания -- физические основы -- режущие инструменты -- износ режущих инструментов -- стойкость режущих инструментов -- мелкоразмерные режущие инструменты -- надежность режущих инструментов -- конструкционные материалы -- инструментальные материалы -- ИжГТУ Доп.точки доступа: Ковальчук, А. К.; Портнов, И. И. Экземпляры всего: 8 ОХиИФ (3), ООЛ (4), ЧЗ№4 (1) Свободны: ОХиИФ (3), ООЛ (4), ЧЗ№4 (1) |
620.2(075) М 31 Масленникова, Л. В. Физические основы методов контроля конструкционных материалов [Text] : учебное пособие [для втузов] / Масленникова, Л. В., Майков, Э. В., Фомин, А. П. - Саранск : Изд-во Мордовского ун-та, 2008. - 223 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 221-222. - ISBN 978-5-7103-17 47-1 : 370-00 р.
МАШИНОСТРОЕНИЕ--МАШИНОСТРОИТЕЛЬНЫЕ МАТЕРИАЛЫ Кл.слова (ненормированные): конструкционные материалы -- механические свойства -- физические основы -- машиностроительные материалы -- машиностроительная продукция -- машиностроительные детали -- визуально-оптический контроль -- капилярная дефектоскопия -- магнитная дефектоскопия -- вихретоковая дефектоскопия -- методы контроля -- акустические методы -- вибрационные методы -- радиационные методы -- тепловые методы Доп.точки доступа: Майков, Э. В.; Фомин, А. П. Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |
537 Г 95 Гуртов, В. А. Зарядоперенос в структурах с диэлектрическими слоями [Text] / Гуртов, В. А., Райкерус, П. А., Сарен, А. А. - Петрозаводск : Изд-во ПетрГУ, 2010. - 241 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 232-235. - ISBN 978-5-8021-11 48-2 : 205-00 р. Передано в дар от зав. каф. Гуртова В. А.
Кл.слова (ненормированные): инжекция -- физические основы -- электронные процессы -- диэлектрические среды -- проводимость диэлектриков -- деполяризация Доп.точки доступа: Райкерус, П. А.; Сарен, А. А. Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |
621.38(075) К 90 Куликов, В. А. Электроника для бакалавров [Текст] : учебное пособие для вузов / В. А. Куликов ; М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВО "ИжГТУ имени М. Т. Калашникова". - Ижевск : Изд-во ИжГТУ имени М. Т. Калашникова, 2016. - 271, [1] с. : ил., табл., схемы. - Библиогр.: с. 267-271. - ISBN 978-5-7526-0733-2 (в пер.) : 717.85 р. Рек. ученым советом вуза по направл. 09.03.01
Кл.слова (ненормированные): электроника -- физические основы -- полупроводниковые диоды -- биполярные транзисторы -- полевые транзисторы -- усилители -- цепи смещения -- мультивибраторы -- электронные схемы -- моделирование схем -- расчеты схем -- курсовое проектирование -- ИжГТУ Экземпляры всего: 23 ОХиИФ (3), ООЛ (20) Свободны: ОХиИФ (3), ООЛ (20) |
621.382(075) Ш 65 Шишкин, Г. Г. Наноэлектроника [Текст] : элементы, приборы, устройства : учебное пособие для вузов / Г. Г. Шишкин, И. М. Агеев. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2017. - 408 с. : ил., схемы. - (Нанотехнологии). - Библиогр.: с. 404-406. - ISBN 978-5-9963-0638-1 (в пер.) : 314.20 р. Рек. ГОУ ВПО "МГТУ имени Н. Э. Баумана" по направл. 210800 "Нанотехнология", 152200 "Наноинженерия", 210100 "Электроника и наноэлектроника"
Кл.слова (ненормированные): наноэлектроника -- физические основы -- технологические основы -- наноструктуры -- наноструктурированные материалы -- наноматериалы -- наноэлектронные приборы -- нанобиоэлектроника Доп.точки доступа: Агеев, И. М. Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |
621.38(075) С 50 Смирнов, Ю. А. Физические основы электроники [Текст] : учебное пособие для вузов / Ю. А. Смирнов, С. В. Соколов, Е. В. Титов. - 2-е изд., испр. - Санкт-Петербург ; Москва ; Краснодар : Лань, 2013. - 559, [1] с. : ил., схемы. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-8114-1369-0 (в пер.) : 1200.50 р. Книга доступна в электрон. версии на www.e.lanbook.com
Кл.слова (ненормированные): полупроводники -- тонкие пленки -- полупроводниковые приборы -- физические основы -- транзисторные каскады -- ттранзисторные усилители -- базовые схемы Доп.точки доступа: Соколов, С. В.; Титов, Е. В. Экземпляры всего: 5 ОХиИФ (1), ООЛ (4) Свободны: ОХиИФ (1), ООЛ (4) |