537.5 М 60 Миллер, М. Зондовый анализ в автоионной микроскопии [Text] : принципы и приложения в материаловедении / М. Миллер, Г. Смит ; пер. с англ., под ред. А. Л. Суворова. - М. : Мир, 1993. - 301 с. : ил. - Библиогр.: с. 7-9, 281-293. - Предм.-имен. указ.: с. 294-298. - ISBN 5-03-0025-07- 3. - ISBN 0-931837-99-5 : 600.00 р.
Кл.слова (ненормированные): микроскопия (электричество) -- ионная микроскопия -- атомные зонды Доп.точки доступа: Смит, Г.; Суворов, А. Л. \пер., ред.\ Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |
621.38 Н 40 Неволин, В. К. Зондовые нанотехнологии в электронике [Text] / Неволин, В. К. - М. : Техносфера, 2005. - 147 с. : ил. - (Мир электроники ; VII, 11). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-054-7 (в пер.) : 190-00 р.
ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ Кл.слова (ненормированные): наноэлектроника -- микроэлектроника -- микроскопы зондовые -- нанотехнологии -- зондовые нанотехнологии -- нанотранзисторы -- углеродная наноэлектроника -- подложки полупроводниковые Экземпляры всего: 1 КХ (1) Свободны: КХ (1) |
621.38 К 55 Кобаяси, Н. Введение в нанотехнологию [Text] / Кобаяси, Н. ; пер. Хачоян, А. В. ; ред. Патрикеев, Л. Н. - М. : Бином. Лаборатория знаний, 2007. - 134 с. : ил., табл. - ISBN 5-94774-218-7 (в пер.). - ISBN 4-492-09151-3 : 100-00 р. Перевод заглавия: Nano Technology
ФИЗИКА--ЭЛЕКТРОННАЯ И ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- нанотехнологические исследования -- история нанотехнологии -- микроэлектроника -- микроскопы электронные -- сканирующие электронные микроскопы -- фотообработка -- нанотрубки углеродные -- квантовые компьютеры -- наноустройства -- наностекла -- датчики биологические -- термины информационные -- наноматериалы -- зарубежный опыт Доп.точки доступа: Хачоян, А. В. \пер.\; Патрикеев, Л. Н. \ред.\ Экземпляры всего: 4 КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (2) Свободны: КХ (1), ЧЗ¦1 (1), НТА (2) |
537(075) К 75 Кочаков, В. Д. Основы сканирующей туннельной наноскопии [Text] : учебное пособие для вузов / Кочаков, В. Д., Ярусов, Е. А. - Чебоксары : Изд-во Чуваш. ун-та, 2009. - 68 с. : ил. - Библиогр.: с. 66-67. - ISBN 978-5-7677-13 85-1 : 250-00 р.
Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- наноскопия -- зондовые микроскопы -- FEMTOSCAN -- сканирующая туннельная микроскопия Доп.точки доступа: Ярусов, Е. А. Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |