621.315.5(075)
Р 94


    Рыков, С. А.
    Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Text] : учеб. пособие для вузов / Рыков, С. А. ; ред.: Ильин, В. И., Шик, А.Я. - СПб. : Наука, 2001. - 56 с. : ил. - (Новые разд.физики полупроводников). - Библиогр.: с.51. - ISBN 5-02-024956-4 : 30-00 р.
УДК
Рубрики: ФИЗИКА--ПОЛУПРОВОДНИКИ
   ЭЛЕКТРОТЕХНИКА--ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ

Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- наноструктуры -- микроскопия -- спектроскопия -- туннелирование -- микроскопы -- физика полупроводников


Доп.точки доступа:
Ильин, В. И. \ред.\; Шик, А.Я. \ред.\
Экземпляры всего: 2
ОХиИФ (2)
Свободны: ОХиИФ (2)

621.382(075)
Ш 64


   
    Широкозонные полупроводники [Text] : учеб. пособие для вузов / Шретер, Ю.Г. [et al.] ; ред.: Ильин, В.И., Шик, А.Я. - СПб. : Наука, 2001. - 128 с. : ил., табл. - (Новые разд.физики полупроводников). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-02-024959-9 (В пер.) : 50-00 р.
УДК
Рубрики: ЭЛЕКТРОНИКА. РАДИОТЕХНИКА--ТВЕРДОТЕЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ
   ЭЛЕКТРОТЕХНИКА--ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ

Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые приборы -- полупроводники широкозонные -- полупроводниковые материалы -- нитриды галлия -- нитриды алюминия -- нитриды индия -- оптоэлектронные приборы -- светодиоды -- лазеры -- фотоприемники -- СВЧ-приборы -- акустоэлетронные приборы


Доп.точки доступа:
Шретер, Ю.Г.; Ребане, Ю.Т.; Зыков, В.А.; Сидоров, В.Г.; Ильин, В.И. \ред.\; Шик, А.Я. \ред.\
Экземпляры всего: 2
ОХиИФ (1), ООЛ (1)
Свободны: ОХиИФ (1), ООЛ (1)