537.5 М 60 Миллер, М. Зондовый анализ в автоионной микроскопии [Text] : принципы и приложения в материаловедении / М. Миллер, Г. Смит ; пер. с англ., под ред. А. Л. Суворова. - М. : Мир, 1993. - 301 с. : ил. - Библиогр.: с. 7-9, 281-293. - Предм.-имен. указ.: с. 294-298. - ISBN 5-03-0025-07- 3. - ISBN 0-931837-99-5 : 600.00 р.
Кл.слова (ненормированные): микроскопия (электричество) -- ионная микроскопия -- атомные зонды Доп.точки доступа: Смит, Г.; Суворов, А. Л. \пер., ред.\ Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |
537.5 Т 56 Томас, Г. Просвечивающая электронная микроскопия материалов [Text] : пер. с англ. / Томас, Г., Гориндж, М.Дж. ; ред. Вайнштейн, Б.К. - М. : Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1983. - 317 с. : ил. - Библиогр.:с.310-317. - ISBN . : 3000-00 р.
Кл.слова (ненормированные): Электронная микроскопия материалов -- Микроскопы электронные -- Материалы-Электронная микроскопия Доп.точки доступа: Гориндж, М.Дж.; Вайнштейн, Б.К. \ред.\ Экземпляры всего: 1 КХ (1) Свободны: КХ (1) |
537.5 П 84 Процессы формирования скользящего разряда на диэлектрических подложках с потенциальным барьером [Text] / Шорин, В. П. [et al.]. - М. : Логос, 2000. - 152 p. : ил. - Библиогр.: с. 141-151. - ISBN 5-88439-127-7 (в пер.) : 80-00 р.
Кл.слова (ненормированные): разряды скользящие -- подложки диэлектрические -- электроды -- диэлектрики -- камеры лазеров Доп.точки доступа: Шорин, В. П.; Журавлев, О. А.; Федосов, А.И.; Марков, В.П. Экземпляры всего: 10 ОХиИФ (1), ООЛ (9) Свободны: ОХиИФ (1), ООЛ (9) |
537.5 Ф 50 Физика и технология источников ионов [Text] / Браун Я. [и др.] ; под ред. Я. Брауна ; пер. с англ. под ред. Машковой Е. С. - М. : Мир, 1998. - 496 с. : ил., схемы, табл. - Библиогр. в предисл. - Библиогр.: с. 465-488. - ISBN 5-03-002596-0 (рус.) (в пер.). - ISBN 0-471-85708-4 (англ.) : 40.00 р.
Кл.слова (ненормированные): ионные источники -- источники ионов -- физика плазмы -- ускорители частиц (электроника) -- извлечение ионов -- транспортировка ионных пучков -- численное моделирование -- ионы -- компьютерные программы для моделирования -- фримановские ионные источники -- газовые ионные источники -- лазеры -- источники плазмы -- жидкометаллические ионные источники -- PIG-источники -- ЭЦР-источники -- СВЧ-источники Доп.точки доступа: Браун, Я.; Келлер, Р.; Холмс, А.; Шпедтке, П.; Гавин, Б.; Эйткен, Д.; Машкова, Е. С. \ред., пер.\ Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |