621.382.3 Н 59 Нечаев, А. М. Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов [Text] : реферативный аналитический обзор / А. М. Нечаев, Е. А. Рубаха, В. Ф. Синкевич. - Москва : ЦНИИ "Электроника", 1978. - 80 с. : ил. - (Серия 2. Полупроводниковые приборы ; вып. 10/577). - Б. ц.
Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые триоды -- надежность Доп.точки доступа: Рубаха, Е. А.; Синкевич, В. Ф. Экземпляры всего: 1 ОХиИФ (1) Свободны: ОХиИФ (1) |